二手 AMETEK INSPECT F FEG-SEM #9276757 待售

AMETEK INSPECECT F FEG-SEM是AMETEK，Inc.旗下子公司AMETEK INSPECECT的一种场发射枪扫描电子显微镜（FEG-SEM）。FEG-SE是一种常用于材料科学研究、纳米技术、半导体器件检测、故障分析和逆向工程的分析仪器。FEG-SEM使用户能够以高分辨率检查样品到亚纳米级。INSPECECT F FEG-SEM是一种台式仪器，既能进行近光电流的高分辨率调查，又能进行大视野的高电流成像。该设备采用集成真空系统，具有纳秒高速开关阀和有源真空计，旨在确保最佳真空条件。FEG-SEM配备了用于高分辨率成像的UltraBright FE肖特基野外发射枪和用于自动成像的立柱探测器。此外，标准样品室的设计便于使用自动装载装置快速交换样品。AMETEK INSPECECT F FEG-SEM提供了多种自动化功能，如自动的真心高度调节和无偏向的样品传输，用于高通量成像。该单元配备信号处理以提高图像保真度，包括自动增益、自动对比度、平场校正、数字图像滤波。此外，FEG-SEM包括区域重建和检测器校准等几种后处理辅助工具。FEG-SEM采用各种安全预防措施,包括紧急停止开关和联锁门开关。交互式图形用户界面（GUI）简化了操作和数据采集。此外,模块化机器允许用户将组件（如检测器和样品装载器）配置到其特定应用程序。INSPECECT F FEG-SEM旨在为用户提供可靠、通用且价格合理的扫描电子显微镜，用于各种应用。技术能力的范围、精度和准确性，使得FEG-SEM成为材料科学研究、纳米技术、半导体器件检测、故障分析和逆向工程的理想工具。