二手 EDAX / AMETEK Inspect S #9301224 待售
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










ID: 9301224
优质的: 2007
Detector microanalysis system
PN: PV77-60680-ME
Port: Back left upper
Active area: 10 mm²
Amplifier model: 204 B+
Window type: 3.3
2007 vintage.
EDAX/AMETEK Inspect S是实验室中用于材料分析的综合设备。该系统包括高级成像和精确分析功能,以应对材料分析中的各种挑战。它提供了广泛的分析功能,例如元素映射、表面地形、化学和结构特征以及飞行时间(TOF)溅射深度剖析。该单元的设计支持轻型和重型材料分析。EDAX Inspect S具有全方位的成像、表征和分析能力,包括扫描电子显微镜(SEM)成像、能量色散光谱(EDS)、电子反向散射衍射(EBSD)分析和电子探针微分析(EPMA)。利用EDS检测器,还可以检测到碳、氮等轻元素,使其成为许多应用领域材料分析的理想选择。该机器包括一个高级数据管理工具,允许高效存储、管理和共享分析数据。该资产还包括一个用户友好的图形用户界面(GUI),以便于控制和监视分析过程。还包括一个功能强大的软件套件,包括用于分析功能的专用软件。除分析能力外,该模型还包括自动化的样品装卸设备,旨在提高样品吞吐量。自动化装卸系统还简化了样品的准备过程,有助于最大限度地减少用户互动。该装置的设计能够进行精确、高精度的测量,在二次或反向散射成像模式下分辨率可低至3纳米。它还具有高温EBSD模式,允许机器用于研究高温材料的微观结构。该工具还具有全自动粒子分析能力,允许对粒子进行自动检测、确定大小和识别。这可以用于多种材料,如陶瓷、矿物和塑料。最后,资产配备了自我诊断能力,使模型能够持续监控其操作,并提醒用户错误或异常。此自我诊断功能允许用户在出现任何问题时快速解决。总体而言,AMETEK Inspect S是一种用于实验室材料分析的综合设备,它提供了广泛的成像、表征和分析功能,以及用于快速解决问题的自我诊断。它非常适合在实验室中用于各种材料分析应用。
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