二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353791 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600是一款高度先进的掩模和晶圆检测设备，旨在满足当今现代半导体制造的需求。它可以同时执行以下任务：面罩检查、晶圆检查、计量和缺陷检查。TSK Win-Win 50-1600利用调制光场检查器（MBI）技术进行光学掩模检查,可提供高达10 x 10nm3的分辨率。MBI系统允许对更小的高端半导体元件进行检查,其速度比传统的掩模检查平台快4倍,同时提供超低噪声成像,甚至可以更好地检测最小缺陷。该单元的晶圆检测能力包括迭加测量、图样放置、缺陷检测、迭加比较和自动查看场测量。晶圆检验可以根据ULK标准规则，使用包括Level1、Level2和Level3在内的广泛检验标准，准确快速地进行。ACCRETECH Win-Win 50-1600还支持IMEC、Black-background、Dark-Background、HP-RGB、HP-RGBZ以及LEFT和RIGHT GATE等标准流程和技术。Win-Win 50-1600还提供轮廓测量、缩放、倾斜测量、薄膜厚度测量、微点/孔测量和图桉偏斜等计量学功能，这是评估掩模特性以确保符合行业标准所必需的。机器还具有缺陷检测功能，可以检测到广泛的电气、光学和机械缺陷，包括俯仰、桥接、打开/短、分裂、接触孔、针孔和拒绝。ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600易于集成到生产线中以提高吞吐量和质量。凭借其增强的组件体系结构、灵活的网络和先进的节能功能,它提供了卓越的性能和可靠性。它还支持广泛的镜头和舞台配置，以满足不同半导体产品的需求。总体而言，TSK Win-Win 50-1600是寻求提高产量和减少缺陷的现代半导体工厂理想的掩模和晶圆检验工具。