二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9202658 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50掩模和晶圆检验设备是半导体制造过程中使用的必不可少的工具。该系统旨在提供快速、准确、可靠的掩模和晶圆检测。此外,它的模块化设计便于定制,因此非常适合各种应用程序。TSK Win-Win 50可用于检查模具面罩和光掩模图样。它利用TSK双面光学单元从晶圆的顶部和底部进行测量，提供了比单面光学系统更高的精度。它的高放大倍率和速度也使得它非常适合显微镜和地形检查。该机采用先进的图像采集和分析工具提供动力，融合了高速图像处理、模式识别技术和专门开发的搜索引擎。其先进的光学也保证了高吞吐量和准确性。成像资产也是完全自动化的，允许高效和可重复的检查。ACCRETECH WIN WIN 50还能够利用其内置的分类工具进行缺陷分类。它可以区分真实缺陷和误报，使其成为过程优化的有效工具。此外,其直观的软件包允许轻松培训和模型设置。设备还支持许多标准数据格式,从而可以轻松集成到任何现有工作流中。总体而言，ACCRETECH/TSK WIN WIN 50系统是任何半导体生产线的理想选择。它速度快、精度高、应用范围广，是口罩和晶圆检测的可靠、经济实惠的选择。它的模块化设计还允许轻松定制和集成，使其成为任何生产环境中的通用灵活选择。