二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9281217 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是一种用于半导体生产的掩模与晶圆检验设备，它允许在广阔的视野下对高分辨率的基板和掩模进行检验。该系统采用直接成像投影单元和经过光学修改的华夫饼型物镜，以确保样品的图像清晰或"透明"，没有失真。TSK Win-Win 50可以检测到多种图桉特性，如细线宽、线缘、电路形状和印刷层图桉的形状，以及表面缺陷。此外，该机还配备了支持高吞吐量的先进高速扫描工具。它能够快速获取各种基材和口罩，扫描场高达24.6 x 17.9毫米。它还具有高分辨率成像资产,可检测具有出色图像质量的微小处理缺陷。ACCRETECH WIN WIN 50的软件支持使用自动图像分析算法精确评估模式特征、缺陷和缺陷位置信息。再者，该车型可以支持玻璃、硅、金属、晶体等各种基材的手动和自动操作。WIN WIN 50是广泛应用于半导体生产的理想选择，包括表面检查、液晶蒙版相关缺陷检查、图样检查、线板图样检查。它还配备了直观的用户界面，其易于使用的操作和维护功能使得能够进行高效的掩码和晶圆检查。综上所述，ACCRETECH Win-Win 50是一款创新可靠的面膜晶圆检测设备。其直接成像投影系统和先进的高速扫描能力为各种基材提供了卓越的图像质量和性能。此外，其通用的软件和直观的用户界面使其适合广泛的半导体生产应用。