二手ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS)(晶圆检测)待售

先进计量设备（Advanced Metrology Equipment，简称AMS）是一家领先的半导体行业的掩模和晶圆检测系统制造商。他们的产品以精确度、速度和确保高质量检验结果的先进成像技术而闻名。AMS公司提供的掩模和晶片检测装置利用先进的光学成像技术来检测可见光谱和红外光谱中掩模和晶片上的缺陷。这些机器设计用于分析掩模和晶片的表面、边缘和图样,从而确保生产无缺陷的半导体器件。AMS掩模和晶圆检测工具的关键优势包括高分辨率成像、实时缺陷检测、高速扫描能力、自动缺陷分类等。这些资产还配备了先进的算法和机器学习能力，能够准确检测缺陷并减少误报。AMS面罩和晶圆检验模型的一些流行例子包括IR3100和IR3000模型。IR3100系统提供高分辨率成像和增强的缺陷检测能力，使其适用于先进的半导体制造工艺。另一方面,IR3000系统以高速扫描功能和实时缺陷检测而闻名,非常适合大容量制造环境。总体而言，AMS掩模和晶圆检验设备为半导体制造商提供可靠、高效的解决方桉，帮助他们确保产品的质量和可靠性。