二手 AEM-EVERTECH TTR-300I #9234973 待售

AEM-EVERTECH TTR-300I是一种先进的掩模和晶圆检测设备，用于检查微电子电路的蚀刻、光刻和制图方面的缺陷和不规则性。该系统能够在扫描整个芯片所需时间的一小部分内执行高精度检查,从而使用户能够在生产缺陷成为成本高昂的问题之前对其进行检测和量化。TTR-300I是基于硬件和软件的自动检查工具的组合,使质量控制工程师和其他人员能够轻松地快速识别和量化关键生产阶段的缺陷。这个单元配备了最先进的1024 x 1024像素激光检测和聚焦机器，可以精确检测来自掩模或晶圆表面的粒子和缺陷。此外,该工具还提供自动光学变焦和光斑放大功能,以便用户能够以更高的精度研究缺陷。AEM-EVERTECH TTR-300I有一个为特定用户的规格量身定制的定制软件包,可以针对不同的生产任务进行定制。软件允许用户配置和监视资产,选择布局标准并跟踪检查模型的性能。该软件还具有综合缺陷报告的内置统计分析功能。TTR-300I设计用于在单个平台中容纳各种样本量和配置。集成输入阶段产生高对比度图像以实现最佳查看,并提供了广泛的视图字段（FOV）供用户选择。设备的定制面罩和晶片支架在检查过程中提供了高水平的样品稳定性，而计算机控制的x-y级允许样品在非标准检查时移动或查看。AEM-EVERTECH上的内置滤镜TTR-300I使用户能够选择一种或另一种示例类型,而自定义图像处理工具允许用户对图像进行图像校正或调整。TTR-300I是当今最好的面罩和晶圆检验系统之一。AEM-EVERTECH TTR-300I凭借其最先进的硬件和软件可定制功能,可以帮助用户及时高效地检测和量化生产缺陷。这种检测系统可以提供关于生产整体质量的大量知识，可以帮助很多行业节省时间、金钱和资源。