二手 ALLTEQ LFI 3000 #9028592 待售

ALLTEQ LFI 3000是为提供高分辨率、实时缺陷检测和分析而设计的下一代掩模和晶圆检测设备。该系统针对最佳性能进行了优化,为用户提供最大吞吐量和快速缺陷检测。为确保最高分辨率和准确性，该单元配备了二维成像CMOS传感器、高功率4-Laser源对象检测机和优化光学工具。这为用户提供了简单、精确的晶片和掩模特征分析。LFI 3000具有高达1.5厘米的大面积扫描²并且可以覆盖高达6厘米的区域²分辨率高达16 µm,分辨率高达128 x 512。该资产还具有高密度模式测量、鲁棒模式取向计算、用于高精度缺陷分析的高切换速度以及广泛的缺陷检测，包括颗粒和划痕。该模型可轻松定制和集成,允许简单的安装和设置。它还包括易于导航和用户体验的直观软件。直观的GUI允许快速检查和分析无缺陷的结果。此外，这些设备还具有若干综合功能，例如数据存储、高级分析和数据输出功能、自动后分析缺陷检查系统以及缺陷模式跟踪单元。这允许用户分析缺陷，快速隔离问题区域，并为修复或减少缺陷提供可靠的解决方桉。ALLTEQ LFI 3000是用于检查和调试晶片和掩码功能、优化缺陷检测以及提高准确缺陷识别和解决方桉效率的强大工具。这台机器是用户寻找高级掩码和晶圆检测功能的完美解决方桉。