二手 ALLTEQ LFI 3010 #9278814 待售

ALLTEQ LFI 3010是一款功能齐全的掩模和晶圆检测设备,旨在实现当前和未来芯片设计的最大分辨率和自动缺陷检测。它能够满足最严格的检查要求,并为经济高效的缺陷覆盖和检测提供了一个简单、集成的软件包。该系统的光学部分设计有一个先进的照相机单元，并包含一个内置激光源，用于高分辨率成像和检查掩模和晶圆接口。它配备了一个先进的软件算法，以确保对缺陷的准确和快速的评估，有预定义的标准包括大小和形状检测。掩模和晶圆接口由相机以"指向运动"扫描，这使得机器能够在短时间内覆盖大面积。然后对获得的数据进行实时分析和处理，从而对缺陷或故障特征进行快速准确的评估。此外，它具有较高的视觉检测能力，为更好地了解问题提供了缺陷的视觉图像。LFI 3010以其高精度光学、高效的检测算法和广泛的缺陷标准库，确保了缺陷的完全覆盖和检测。此外,它还具有易于使用的用户界面以及额外的数据提取和分析软件工具,非常适合大型和小型生产设施。该工具符合现代半导体光刻技术，并已在实验室和工业生产线进行测试，证明其准确性和可靠性。它在检测假冒部件方面非常有效，适用于任何类型的应用。最后,ALLTEQ LFI 3010可以与生产跟踪系统或质量保证系统等其他设备连接,从而允许高端客户支持和服务以最大限度地提高客户满意度。此功能对于高效生产和自动缺陷分析特别有用。