二手 AMAT AERA II #293621241 待售

AMAT AERA II是一种用于检查半导体制造作业中使用的口罩、晶片和元件的口罩和晶片检查设备。该系统可用于检测缺陷，降低半导体晶片上与印刷结构相关的屈服损失成本。AERA II允许收集和分析掩模和晶片图像的缺陷，以优化晶片产量和质量。AMAT AERA II是一种高精度取样工具，可以对面罩和晶片上的数百种变化进行采样和检查。该单元包括多种传感器和光学设备，包括数码相机、频闪相机、光谱传感器、激光干涉仪和数码图像处理系统。它还有一个精密的显示机器，可以同时查看平面和角度的蒙版，从而可以更快、更准确地检查蒙版图桉。AERA II可以检查所有类型的像差，分辨率高达1.8微米，灵敏度降至0.2微米。它具有自上而下的角度高达85度的检查能力，可以提供数据来识别最有可能存在缺陷的区域。该工具还具有范围广泛的光学器件，直径从5mm到40mm不等，这给了用户广阔的视野和放大倍率。AMAT AERA II允许用户自定义其特定应用程序的掩码检查设置。这包括掩码模式判断、缺陷分类、二进制分析和模式匹配等特征。资产还有一个自动缺陷分析模型，可以检测几种类型的缺陷，如过度暴露、不足暴露、暗点、条纹和退化。AERA II的关键特性之一是高速性能。它可以以每分钟几百个晶片的速度检查晶片和掩模。这样可以快速准确地生成检验结果,从而确保半导体制造商的高产率和成本效益。AMAT AERA II是半导体行业的宝贵工具。其精密的传感器和光学器件使其能够快速准确地识别缺陷,并且其可自定义的设置允许用户根据其特定应用定制掩码检查过程。其高速性能确保了生产成本的最小化和产量的提高。简而言之，AERA II是任何半导体制造商必不可少的工具。