二手 AMAT / APPLIED MATERIALS 0020-1412 #9361620 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS 0020-1412是一种先进的掩模和晶圆检测设备，设计用于快速准确地识别半导体光掩模和晶圆上的缺陷。该系统包含高分辨率光学成像和先进的自动图像分析软件，用于检测和表征缺陷。它能够每小时检查多达30个晶片，能够检测到小至1微米的缺陷。该单元由光源、光检头、掩模或晶片级以及图像分析软件四部分组成。光源发出可在不同检查条件下调节的漫射照明。光学头由一台长工作距离显微镜、一台高解析度照相机和一台透镜机组成，可以提供非常宽的视野和高放大能力。面罩或晶片级采用精密的电动XY扫描工具设计，可以对样品进行非常精确、高分辨率的扫描。最后，图像分析软件由缺陷检测和表征算法组成，这些算法被编程为检测和分类缺陷。该软件能够分析图像并提供其发现的任何缺陷的详细报告。它还可以执行量化分析、缺陷位置映射、双索引和计算特征大小等多种分析任务。该资产还带有图形用户界面（GUI）,旨在为用户提供对模型参数和设置的轻松控制。GUI还允许用户查看设备获取的数据和图像。总体而言，AMAT 0020-1412是一款功能强大且先进的掩码晶片检测系统，结合了高分辨率成像、精确的电动扫描和先进的软件算法，快速准确地检测半导体照片和晶片上的缺陷。该设备易于使用,有助于提高产量和降低成本。