二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 2T #9266645 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 2T Mask and Wafer Inspection Equipment是半导体制造商用于检查Mask和Wafer的先进检测系统。该单元使用Brightfield和Darkfield光学的组合来检测对齐和曝光参数中的缺陷。AMAT Complus 2T具有较高的速度能力,每小时可扫描4000个晶圆,并提供高达500倍的高分辨率,使用户能够提供快速、准确的缺陷和图像分析。该机器使用高分辨率图像传感器和实时自动对焦系统来捕获1微米及更小尺寸的图像,帮助用户快速识别产品中的缺陷和尺寸差异。该软件提供了多种功能,如图像缝合和缩放,使用户能够更详细地准确分析缺陷。APPLIED MATERIALS Complus 2T还包括照明强度控制，允许用户调整光的强度以达到最佳图像清晰度。Complus 2T可以利用其先进的边缘检测算法来检测由对齐和曝光错误引起的缺陷。这些算法可以检测各种局部和全局缺陷，帮助用户识别不容易看到的缺陷。该工具可与蒙版和晶片产品一起使用,并且可以同时运行晶片级和单模检查,帮助用户在生产成品之前发现隐藏的缺陷。AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 2T还提供了一系列数据分析选项。用户可以轻松地将图像和数据导出到各种外部软件包中以进行进一步分析,从而帮助加快整个过程。该资产还能够对数据进行分类、筛选和分析，帮助用户快速查明特定的缺陷来源并允许他们设置纠正措施。AMAT Complus 2T是一种用于检查口罩和晶片的先进工具，可用于检测纳米尺度的各种缺陷。APPLIED MATERIALS Complus 2T凭借其先进的功能、高速处理和多用途的数据分析功能,已成为先进电子元件制造商的重要工具。