二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3T #9280959 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3T是一种先进的掩模和晶圆检测设备，利用光学检测技术来识别可能的设备缺陷。该系统能够检测包括光学标线、掩码和晶片在内的广泛的掩模图样，并且能够检测到内存元素缺失、双面图样缺陷、错位或与方向相关的缺陷以及非标准图样缺陷等缺陷。AMAT Complus 3T单元基于一种专门的振幅调制技术，在一个单独的物体与其背景之间产生对称性。振幅调制技术高度敏感，使机器能够准确识别重复对象及其对应缺陷之间的微小差异。此工具利用聚焦的离子束绘制一条窄线轨迹,资产可以与该轨迹比较对象的任何差异。先进的光学检测模型配备了先进的算法来识别缺陷。这些算法包括图像捕获和处理、图像比较和缺陷分类。图像捕获和处理算法使用CCD技术来捕获和存储对象的中等分辨率图像。比较算法采用数字处理来比较这些图像，并对对象的准确性进行定量评估。最后,缺陷分类算法将这些图像与一组先前定义的参数（如规范和公差）交叉引用,以确定某个对象是否有缺陷。除了先进的光学检测技术外，APPLIED MATERIALS Complus 3T设备还配备了先进的硬件部件。这类元件包括扫描电子显微镜级、晶圆级，以及系统运行的各种关键元件。扫描电子显微镜级配备了捕获晶片高分辨率图像的能力，使用户可以同时检查掩模和晶片的多个区域。晶片级启用晶片的移动，这样就可以视需要检查对象的任何片段，而不必移动整个对象。除了先进的设备外,Complus 3T设备还配备了软件控制以及用户友好的翻译和传输界面。这些接口允许以任何语言进行图像捕获和比较，从而使机器能够为多样化的客户服务。此外,该软件还具有用户友好的3-D图形界面,能够快速识别缺陷和精确测量。AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3T工具效率高、性价比高，是口罩和晶圆检验的理想选择。AMAT Complus 3T拥有先进的光学检查技术、专业算法、先进的硬件组件、软件程序以及用户友好的翻译和传输接口,是确保掩模和晶圆组件质量保证和准确分析的理想工具。