二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #293617607 待售

ID: 293617607
优质的: 2001
Patterned wafer inspection system 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是一种面罩和晶圆检测设备,旨在提供卓越的性能和直观的操作。该系统提供了一系列高级功能,包括自动晶片对齐、高分辨率图像捕获和分析、自动缺陷识别和分类,以及在单个视图域内检查整个晶片的能力。AMAT WF-736 XS DUO配备了一个新的双束图像采集模块,利用光学和电子束成像模式为各种基材类型和特征提供优化的数据捕获。该单元与高分辨率、全场数字线扫描仪集成在一起,可产生高达120Mpixel的明场和暗场图像。此外,机器还提供各种自动化功能,如通过其3D配置文件对缺陷进行智能识别、准确的特征检测以及自动缺陷分类。该工具采用了最新的成像和图像处理技术。它包含了一个集成的图像处理和分析资产,提供先进的图像过滤算法和统计分析来分类,测量和分类缺陷。该模型还配备了数字光场成像设备,该设备提供高对比度图像,可用于检测复杂结构和布局上的小缺陷。ORBOT WF-736 XS DUO还具有提供增强和直观操作的高级控制软件。这控制了工具在晶片上的应用,并允许根据用户的需要轻松定制成像参数。该系统还配备了先进的特征识别单元,可自动检测和测量晶圆表面上的模具模式参数。WF-736 XS DUO为要求苛刻的半导体工业中的掩模和晶圆检测提供了高效可靠的解决方桉。该机结合强大的成像技术和直观的操作,能够从0.1um-2um检测到各种关键缺陷。它大大减少了与手动检查相关的时间和成本,并在关键生产环境中实现了高效的流程流程。
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