二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #9412198 待售

ID: 9412198
优质的: 2000
Patterned wafer inspection system 2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是一种先进的掩模和晶圆检测设备。它包括两个晶圆检测站,一个先进的计算机视觉系统和一个强大的干涉透镜单元。该机配备了先进的光学剖面仪、晶圆检测站、SEMI自动调节、高速自动对焦工具以及可定制的用户界面。两个晶片检测站中的第一个具有8英寸光学扫描场,用于捕获整个被检测晶片表面。AMAT WF-736 XS DUO包括一个高解析度的线扫描相机,使资产能够以更高的精度看待多个表面特征。线路扫描相机与随附的光学剖面仪配合工作,获取晶圆上缺陷的高质量3D图像。第二晶片检测站配备了高分辨率CCD相机,以极大的精度和细节捕捉大型晶片图像。CCD相机用于捕获高达0.2 μ m的表面缺陷。此模型还包括用于自动设置和操作的SEMI自动调整功能。除了两个晶圆检测站外,ORBOT WF-736 XS DUO还配备了先进的计算机视觉设备,具有一系列可定制的功能。计算机化视觉系统提供模式选择、轮廓分析和旋转分析功能。如果任何晶片缺陷超过预设参数,也可以将设备配置为生成警报。此外,视觉机器支持不同的视场和放大级别,使整个晶圆清晰的可视化。WF-736 XS DUO配备了强大的干涉透镜工具,提供高精度的成像,具有出色的分辨率和对比度。透镜将激光点聚焦在晶片表面,高速获取缺陷的3D图像。资产的自动对焦模型始终保持激光聚焦点居中,确保晶片扫描尽可能准确高效。此外,设备还包括一个可定制的用户界面,允许操作员定制功能、量身定制系统设置以及程序自动化例程,以进行高效检查。用户界面包括被检查晶圆表面的实时导航,以及晶圆测试图像库。应用材料WF-736 XS DUO是最先进的面罩和晶圆检测系统之一.它提供高精度成像和自动化操作,并具有一系列可定制的功能,使其成为生产环境的理想解决方桉。
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