二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS #9011672 待售

ID: 9011672
Patterned wafer inspection system, 8" 2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 XS是一种自动化的掩模和晶圆检测设备,设计用于为工程师提供高性能缺陷检测和深入分析。该系统采用扫描电子显微镜(SEM)、共聚焦显微镜、荧光成像等无损成像技术的组合,快速检测半导体制造过程中晶片或掩模表面的问题。AMAT WF 736 XS具有许多高级功能,可有效检测晶片和掩模上的缺陷。该单元利用图像识别算法来识别形状、特征和其他潜在缺陷特征,然后使用汽车级AI对其进行分类并检测其在表面的位置。此外,具有高精度物镜的像素精确形态学缺陷识别机可帮助工程师识别和诊断即使是最小缺陷的问题。它有一个高度敏感的光学工具,空间分辨率为5海里,使得它能够检测非常精细的形状和轮廓微观结构。资产还有一个自动扫描机制,可以精确检测和测量15 x 15厘米大面积的缺陷。ORBOT WF 736XS还具有智能晶片索引功能,允许检查多个晶片而无需重新校准模型。此外,该设备还为工程师提供了灵活可调的对比度和局部对比度增强,以便更好地识别缺陷。它还使用了多种缺陷分析工具,如轮廓分析、光学接近校正、图像分类和3D缺陷重建。此外,各种可视化模式(如放大视图和3D模式)使用户能够以不同的方式查看缺陷。总而言之,AMAT WF 736XS是一种先进的自动掩模和晶圆检测系统,旨在极高精度地检测和分析缺陷。通过采用各种成像技术、高精度光学系统、先进的缺陷识别算法和几种可视化模式,该单元帮助工程师快速准确地识别缺陷,以达到最佳效果。
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