二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SEM G5 MAX #293647406 待售

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ID: 293647406
晶圆大小: 12"
优质的: 2011
Defect review system, 12" Active damping subsystem Load lock G5 Main chamber PFU Unit / Line conditioner X-Y Stage and motion controller, 12" BROOKS AUTOMATION ETU True beam mapper E-Chuck wafer holder and controller Factory Interface: SMIF Missing parts: PAL Analog board HVPS ITU Distribution board VAC Distribution board Scintillator blade PAL Digital board CCS Board CVC Board ITU Controller ITU Driver OM Module DMD Sensor LFS OM P.S IPU ETU Controller 2011 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SEM G5 MAX是一种高精度的掩模和晶圆检测设备,提供深次分辨率的测量能力和特征尺寸的无损分析。该系统旨在处理最精确的应用程序,使客户能够获得符合行业标准的结果。AMAT SEM G5 MAX使用扫描电子显微镜(SEM)来测量半导体基板、掩模和光掩模上存在其他检查技术难以检测到的缺陷的特征。最先进的设计使该设备能够以极高的精确度测量小至0.01 µm的样品,非常适合希望实现90 nm以下分辨率的客户。它能够以极高的精度对掩模和晶片表面进行缺陷检查,从而能够及早发现和修复否则很难检测到的缺陷。机器的电子光学和自动测量有助于减少时间和降低成本的低到大体积的检查。它的高分辨率能力提供精确的分析,而它的无损分析使其成为大容量测试应用的理想选择。G5 MAX还包含多种检测模式,如可变斑点大小、可变电流和可变级,允许对小特征进行精确准确的检测。除了功能外,APPLIED MATERIALS SEM G5 MAX还配备了功能强大、用户友好的操作工具。这包括一个内置编辑器,允许用户根据自己的需要自定义和配置设置,同时还可以通过其高级测量工具快速轻松地访问数据。软件还支持多种文件格式,使客户能够轻松存储和分析检查数据。总体而言,SEM G5 MAX是一种有效和可靠的掩模和晶圆检查资产,旨在满足最苛刻的测量要求。它能够使用亚微米分辨率处理大型特征尺寸,因此对于那些寻求精确检查的人来说,它是一个极好的选择,同时为那些有大量需求的人提供了一个用户友好且经济实惠的模型。
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