二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX 300 #293628469 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX 300
ID: 293628469
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX 300是一种用于半导体应用的掩模和晶圆检测设备。它是一种可靠、高速的系统,设计用于快速、准确地检查为高级工艺节点量身定制的半导体掩模和晶片。该设备以前所未有的精度和速度对光掩码、晶片和微器件进行全场在线检测。该检测机由于其强大的光学性能和超强的照明能力,实现了高吞吐量。该单元设计用于控制晶片或掩模上不同深度的光束大小、频率和形状,以便收集和评估数据以确保产品质量。CX 300可以检测到点缺陷、线缘粗糙度、残留粒子、线宽误差等多种临界缺陷,提供准确的结果。CX 300能够检测整个晶片中最小和最具挑战性的缺陷。它可以检查晶片的尺寸不超过32 x 32厘米,厚度不超过1mm。该工具还支持硅、蓝宝石、石英、玻璃等多种基材。CX 300支持数种先进的光学,包括数字全息显微镜、可变深度成像、晶片到晶片计量学和数字成像,以提供对缺陷的详细分析。此外,它还配备了大量的照明组件和先进的照明条件,包括可选的主照明资产,可确保更准确的成像结果。CX 300附带了一个直观的软件平台,使用户可以轻松导航、控制和分析单位收集的数据,无需培训。它拥有先进的自动化缺陷审查软件,可以快速检测、测量和分类缺陷。该软件还可用于生成类似CAD的对象和分析CD更改的周围结构像差(SSA)。总体而言,AMAT SemVision CX 300是一种先进的掩模和晶圆检测模型,旨在提供快速和高精度的结果。它可以帮助检查质量最高、复杂的设备及其软件功能,从而提供方便用户和直观的操作,使设备成为半导体制造的可靠工具。
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