二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9218625 待售

ID: 9218625
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX Mask&Wafer Inspection Equipment是一种全面、用户友好的解决方桉,可满足广泛的mask和wafer inspection需求。该系统提供高性能模式识别和缺陷本地化功能,支持最新的光掩码和IC技术,以及广泛的流程流。它具有强大的光学设计,具有卓越的图像分析、灵敏度和分辨率能力。AMAT SemVision CX包括一个高级图像捕获单元,该单元以单场和多场成像模式捕获掩码和晶片层的全场图像。它提供了自动缺陷检测功能,可有效识别各种掩码和晶片缺陷,如CD、线缘粗糙度、线宽变化、桥接、接触孔、蚀刻收缩等。机器还能够在不同的环境中检测不同类型的缺陷,例如通过视场(FOV)、注册和多路复用应用。APPLIED MATERIALS SEM VISION CX还包括强大的缺陷分析功能,允许用户快速识别、分类、可视化和了解相关缺陷。它还提供了定量数据分析,以便于缺陷比较和分类,以及高级缺陷优先排序工具。APPLICED MATERIALS SemVision CX因其快速的真空喷嘴处理、样品定位、自动缺陷隔离和审查功能而被设计为最高效率。它还通过提供用户定义的模板存储来促进可追踪性和数据存储需求,并快速、准确地创建报告。AMAT SEM VISION CX是为实现最高的生产效率而构建的,它具有集成的易于使用的软件套件,用于图像分析、数据整理、报告和生成产量参数,以及数据传输和与工厂中的其他系统集成。总体而言,AMAT/APPLIED MATERIALS SEM VISION CX是一种先进的掩码和晶片检查工具,提供无与伦比的成像和缺陷分析功能,使用户能够以前所未有的分辨率检测和分析各种掩码和晶片缺陷。
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