二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus #9374700 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus是一种掩模和晶片检查设备,其设计目的是确保在检查和检测晶片和掩模上的缺陷时达到最高的精度-甚至只有1微米的缺陷。该系统使用先进的色彩传输技术来精确检查蒙版和晶片,并可以将缺陷图像传输给大多数彩色支持的打印机。该单元支持多个工具，如Tandem、darkfield和brightfield，以准确检测晶圆和掩码上的各种缺陷。它还支持多模具检测的缝合，以满足半导体加工日益增长的模模需求。其先进的后处理能力也提高了故障检测精度。该机包括定制设计的光学器件，如多区域自动对焦和自动中心功能，提供出色的分辨率数据。它还包括定制设计的图像放大系统,它可以将放大倍率提高到250X,每分钟最多可显示8张图像（分位为16位）。它使用专门的过滤和图像增强技术来产生具有改进的缺陷分辨率的高对比度图像。AMAT SemVision G2 Plus包括强大的图像处理功能,可检测晶圆和掩码上的各种缺陷类型。它的全自动掩码检查模式实时处理图像，直观的用户界面使其易于使用。此外,该工具还为各种掩码类型提供自定义分析,并提供高级缺陷识别模块,以实现快速准确的缺陷诊断。此外,它还具有用于缺陷计数和分析的多层成像资产。它最多可以检测到4级缺陷，其缺陷处理能力可以检测到开放式缺陷、短裤、桥接、焊球、应力裂纹以及其他类型的缺陷。其集成的自动化控制模式为手动和自动化操作提供支持。它还包括用于工程和质量控制的高级软件套件。此外,设备还支持多种文件格式,例如标准TIFF和JPEG,以确保与其他行业标准系统的兼容性。最后,APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus包括高级系统级可靠性功能,例如冗余电源和组件,以确保可靠的运行。它还包括一个客户支持包,为客户提供在线和电话支持。