二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9167173 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
ID: 9167173
晶圆大小: 12"
优质的: 2003
Defect review system, 12" Currently warehoused 2003 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是专门为半导体工业设计的掩模和晶片检测设备,能够在制造前快速准确地验证所有关键芯片特征。其先进的光学和成像技术使集成电路设计的吞吐量和产量得以提高,并减少了缺陷和故障。AMAT SemVision G2使用象限检测器技术进行成像保证和更高的模式识别性能。该系统的专用光学阵列支持四向扫描掩模图样,允许从多个角度捕获所有图样。其向量单元增加了单个特征的高分辨率成像,提供清晰详细的字符识别。此外,高速扫描还能够快速检测和消除生产缺陷。该机配备了双室10000级洁净室,针对有效的空气淋浴和室内空气过滤进行了优化。空气淋浴工具允许超纯空气进入装置,降低了颗粒污染的风险。它还利用位置触发的空气爆炸在处理过程中疏散颗粒,从而促进高吞吐量。此外,该资产还设计了双窗口设计,以实现最大的透明度水平,这是动态成像响应的理想之选。APPLICED MATERIALS SemVision G2集成了一款高灵敏度相机,可提供快速的数据处理速度和高清(HD)成像,以及其高性能电荷耦合器件(CCD)图像传感器模型。该设备配备了软件,用于高效的信息管理和与单级或多级处理的兼容性。此外,其高级操作系统还支持完整模式和缺陷捕获,并具有增强的可追踪性和跟踪转换功能。最后,对SemVisionG2掩模晶片检测仪进行了优化,为集成电路制造提供准确可靠的成像和有效的缺陷和故障检测。它集成了先进的光学和成像技术,能够实现多特征角的高分辨率图像、位置触发的空气爆炸、高灵敏度相机、CCD图像传感器、软件兼容性和可追踪性功能。
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