二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9190574 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2蒙版和晶片检测设备是高精度光刻检测行业的领先者,提供卓越的图像质量、精度和速度。该系统提供了集成的图像处理和检查解决方桉,该解决方桉针对最先进的光刻节点（包括6 nm及以下）进行了优化。使用最先进的成像设备,此类检查使客户能够保证产品开发方面的最高质量。通过对每个特征大小和节点进行专用的成像校准,这台机器在低至6nm的可视模具检查中提供了最高的精度。该工具配备明亮、高分辨率的12英寸透射光成像仪和自动对焦功能,可提供清晰清晰的图像,并在整个图像领域提供可靠的对比度。除了高精度检测外，AMAT SemVision G2还通过其获得专利的自动缺陷检测资产提供了对掩模和晶片缺陷的无损审查。该缺陷检测模型用于检测线端桥接、坑桥、线断裂、光学接近缺陷（OPD）检测、颗粒和污染等缺陷。该设备还提供了一个集成扫描系统，从CD测量探测器和FOUP等各种设备收集数据。此单元也可自订进行CD狭缝或二进制狭缝测量，以及像差测量。此外,该机器允许客户在开发过程中节省宝贵的时间,从而实现快速、轻松和准确的检查和测量。在灵活性和工作效率方面,APPLIED MATERIALS SemVision G2工具提供了广泛的创新功能,以满足客户的需求。该资产提供了即时重新配置晶圆尺寸的能力，并包括一个新颖的负载端口体系结构。它还配备了用户友好的GUI界面、自动工具选择和直观、易于使用的界面,具有简单的导航功能,可用于复杂的操作。总体而言,SemVision G2模型是用于掩模和晶片检查的领先解决方桉,它提供了先进的成像和校准,以实现高精度精度。它的集成成像和扫描提供了准确的结果,减少了时间和资金投入,使客户在其过程中更高效、更高效。它具有最高质量的图像和最快的缺陷检测,为最先进的光刻节点提供了最佳的光刻性能。