二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9215407 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一种自动化的面罩和晶圆检验设备，设计时采用了检验技术的最新进展。它以高分辨率拍摄微芯片的三维图像，能够快速识别潜在缺陷和效率低下的区域。检查过程从晶片在电子控制平台上快速旋转开始。红外照相机随后拍摄了超过6000帧的旋转晶片。然后通过系统强大的AI算法对这些数据进行分析和解释,从而可以对其组件和潜在弱点进行高度准确的渲染。然后,AI软件可以轻松找到结构中的错误和不一致之处,然后在必要时对每一个错误和不一致之处进行检查和修复。根据客户的要求,可以调整设备的参数以检查不同的分辨率和深度。G2还支持多种不同的晶圆尺寸，使其适合任何行业或技术。G2的现代设计确保了高水平的过程效率,包括完全自动化,使用户能够灵活地自动执行所有执行的检查。集成软件能够高效处理多个晶片，可以对每个晶片进行几次不同的检查。它的图像导航机还允许用户快速定位和查看晶圆中潜在缺陷的图像，改善了整个过程。通过利用其掩蔽、对齐和缺陷特性,AMAT SemVision G2可帮助最大限度地减少缺陷并大大减轻生产团队的压力。由于集成了最新的人工智能技术和自动化功能,APPLIED MATERIALS SemVision G2是高效检查掩模和晶片以及快速识别缺陷和低效率的完美工具。它具有高度的准确性和灵活性,并且可以执行多次检查,以确保最终产品符合客户的期望和规格。该工具已证明是不断发展的半导体行业的宝贵资产，是市场上最可靠的检验解决方桉之一。