二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一款功能强大的掩模和晶圆检测设备，旨在提供高度精确和快速的缺陷检测和表征。该系统配备了最新的检测技术，为生产级半导体元件检测提供了快速高效的缺陷检测和高精度定位。AMAT SemVision G2采用了一种经过像差校正的4.5kV扫描电子显微镜（SEM），该显微镜集成了最先进的图像采集和成像处理技术。它旨在提供卓越的成像性能和对复杂缺陷的分析。该单元利用四通道信号检测、高灵敏度倾斜检测器、振幅对比度技术等先进检测器，提供卓越的成像保真度、可重复性和可靠性。APPLIED MATERIALS SemVision G2还具有高吞吐量晶片审阅模式，允许用户在生产卷中高效筛选和分类晶片。除了成像功能外,SemVision G2还配备了3D自动对齐机,能够快速自动对齐样品、图像旋转和倾斜检测。它还允许用户以自上而下和侧视方向执行3D X射线分析。利用集成的图像分析应用,可以轻松地对缺陷进行精确的大小和分类。此外,该工具设计为具有多用户访问权限,因此多个用户可以同时使用该资产,从而提高了生产率并缩短了周期时间。AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2以合理的价格提供高级成像和分析功能的组合,使其成为半导体元件检查的理想工具。集成的硬件和软件技术为快速准确的缺陷分析提供了卓越的图像分辨率和对比度。该模型采用3D自动对准、多用户访问、灵活的图像处理，旨在满足半导体行业苛刻的检测要求。