二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269326 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一种高精度的掩模和晶圆检测设备，适用于与半导体制造相关的多种应用。此专用系统允许用户在设备和系统级别上以视觉方式检查蒙版和晶片上的图桉层。它旨在提供卓越的精确度和可重复性,能够检测缺陷到2微米的分辨率。该装置采用明场组合的主教/透视反射显微镜，允许在斜光和直光下检查样品。这台机器还配备了快速LED光源以优化观看效果,并配备了先进的20 x/120 x光学工具,能够以高达1280 x 1024的分辨率捕获高分辨率图像。此外,AMAT SemVision G2还配备了1600万像素的CMOS摄像头和图像捕获卡,用于直接图像捕获和存储。APPLIED MATERIALS SemVision G2还包括一套全面的自动化检查和分析工具，允许用户快速识别缺陷，确定精确位置，并进行详细分析。该资产还支持集成的线扫描,从而实现精确的边和线缺陷分析。该模型具有内置自动对焦算法的实时自动对焦能力，无需用户调整即可获得最佳图像。SemVision G2还提供了广泛的测量，包括边缘位置和山峰分析，使其成为各种生产工艺的理想选择。此外,设备还提供多种I/O功能和多种联网选项,允许用户远程控制设备或将其与现有系统集成。总体而言，AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一种可靠且易于使用的面罩和晶圆检测应用系统。该设备提供出色的图像和数据质量,以及一系列自动化工具和测量功能。它允许快速、准确和可重复的检查,允许用户快速识别和分析其口罩和晶片上的缺陷和特征。