二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9382817 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
ID: 9382817
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一种用于分析各种半导体晶片和掩模的掩模和晶片检测设备。该设备提供多种功能,包括高分辨率成像、自动测量和质量保证。该系统旨在分析和检查掩模和晶片的缺陷和其他特性,如形状和尺寸变化。该设备能够以0.25 µm分辨率的最高分辨率捕获口罩和晶片的图像。这为用户提供了可用于识别和评估缺陷和其他变化的详细图像。AMAT SemVision G2还具有自动测量功能,可帮助加快检查过程。其中包括一系列用于快速测量结构和缺陷尺寸以及其他特征的模式比较和分析工具。这消除了手动测量的需要,使机器效率高,成本效益高。此外,该工具还提供集成的内置质量保证工具,有助于确保所有部件都符合客户标准。这些工具旨在帮助用户验证所有功能和结构是否满足所需的要求,从而使客户订单的执行变得更加轻松快捷。APPLIED MATERIALS SemVision G2还为用户提供了一个直观的用户界面,允许快速、轻松地访问功能和特性。用户界面还旨在提供关于每次检查操作状态的清晰反馈,以及测量和测试的实时结果。总体而言,SemVision G2是半导体行业强大、可靠的掩模和晶圆检测资产。该模型为用户提供高分辨率成像、自动化测量和质量保证工具,使其成为确保生产优质产品的高效且经济高效的工具。
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