二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9264196 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB（聚焦离子束）是一种综合性的掩模和晶圆检测设备。该系统采用专有的光学和扫描电子显微镜（SEM）技术，提供前沿晶片、掩模等平面样品表面计量检测能力。SemVision G3的亮点包括：卓越的成像功能和缺陷本地化。先进的SEM成像可实现详细的成像和缺陷定位,有助于确保准确评估各种结构中的关键结构和缺陷。综合缺陷分类.该装置为晶片、掩模和其他扁平样品提供全面的缺陷分类，对颗粒、污染物和结构缺陷提供可靠的检测和分类。Machine Control.SemVision G3通过高级软件和用户编程接口提供工具控制,从而实现自动吞吐量和高效利用资产。自动索引和缺陷排序。自动化的索引和缺陷分类功能能够快速识别模式,能够深入了解缺陷过程。这有助于在单次分析时提供卓越的故障取芯能力。与AMAT和第三方软件集成。SemVision G3能够与其他APPLIED MATERIALS和第三方软件集成,从而实现经济高效的数据分析和快速的产品验证。Global Support.该模型附带了一个全面的全球支持网络,包括安装、培训和技术支持。这可帮助用户最大化性能并最大程度地减少停机时间。最后,AMAT SemVision G3 FIB是一种高度先进的掩模和晶圆检测设备,它提供卓越的成像和缺陷定位功能、全面的缺陷分类、自动索引和缺陷分类,并支持与其他AMAT/APPLIED MATERIALS和第三方软件的集成。该系统还配备了卓越的全球支持网络,可实现最佳性能和最小停机时间。