二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9287513 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一种用于解决晶圆级设计错误的掩模和晶圆检测设备。该系统具有高分辨率成像和检查功能,能够检测350 nm间距上小至2 nm的缺陷。该单元适用于工程过程控制和生产数据分析。在规格方面,AMAT SemVision G3 FIB利用Ultima FIB/SEM列和高级成像技术,如分辨率目标自动化软件、光学近端探测和TEM/SEM功能,以实现最高的准确性、灵活性和吞吐量。它配备了最新的成像和分析工具,包括缺陷审查、区域严格性和成像保真度模块。这台机器配备了一个独特的双级自动化扫描和检查软件（ASIS）板，它允许几个扫描环境的集成。此功能确保了生产速度和产量优化方面的最佳性能。此外,820 Integrex FE-SEM电动定心设备提高了定位精度、吞吐量和多功能性。APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一个通用平台,因为它可以轻松集成其他第三方检测产品。因此,您可以使用它来执行多个功能,如自动化对齐、可编程转移、缺陷预处理和快速单映像对齐。至于样本量，该工具最多可以加工4英寸晶圆。SemVision G3 FIB专为安全操作而设计,提供基于现场的安全选项,例如联锁、自动停止、污染监控和自动报警,以便于晶圆处理的维护和管理。其符合人体工程学的设计使其方便易用。该资产配有触摸屏面板和用户友好的GUI,可帮助浏览各种交互式功能。总体而言，AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一种先进可靠的晶圆检测任务解决方桉。它提高了准确性、生产率和灵活性,适用于自动化过程控制和数据分析。