二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #293626936 待售
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已售出
ID: 293626936
优质的: 2007
Defect review system
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
2007 vintage.
AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3 Lite是为简化生产和提高吞吐量而设计的生产线半导体掩模和晶圆检测设备的顶部。通过结合高分辨率数字成像和高级数据分析,G3 Lite能够快速识别半导体掩模和晶片上的缺陷和缺陷。G3 Lite的成像系统完全可定制,以达到最高质量标准。它利用了从10个×到13 500个×的各种放大倍数,以便进行更详细和准确的检查。全尺寸CCD光学阵列能够在检查区域捕获高达6k x 6k分辨率的图像,使设备能够检测极小的缺陷。计算机图像处理和先进的图像处理算法进一步提高了机器的功能。G3 Lite专为提高吞吐量和生产率而设计,具有可调节的扫描速度,使操作员能够调整扫描速率以满足其应用要求。该机同时支持100纳米和300纳米成像,使操作员能够在不同的检查和过程之间快速切换。此外,该工具还有一个自动化级,可以精确地移动、倾斜和旋转晶圆生产的所有主要级别。G3 Lite提供了一套全面的分析工具,使操作员能够以极高的精度测量和分析阵列、边和尺寸。Auto-Focus和Auto-Tune技术有助于减少检查时间,同时保持准确性,使资产能够快速识别潜在缺陷。用户友好的图形界面确保操作员能够快速学习如何使用模型。设备还包括一系列可靠的报告和数据输出选项,包括绘图仪、数码机和激光打印机。通用的G3 Lite系统适用于广泛的应用,从大批量生产到实验室层面的研究。它兼具高性能和先进特性,是任何掩模或晶圆检测操作的绝佳选择。
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