二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite是一种面罩和晶圆检测设备，旨在方便对高端微电子器件进行可靠高效的检测。该系统利用高分辨率准粒子成像、光场光学和独特的模式识别模块等功能，提供卓越的缺陷检测和报告能力。AMAT SemVision G3 Lite配备了先进的彩色LED照明，使该单元能够准确测量照明和未照明样品的图样差异，使用户能够检查更广泛的材料。它还具有闪烁的屏幕投影，显示标本的150 nm分辨率图像，为用户提供详细的图像，以帮助检测亚微米缺陷。机器的自动测量功能使用多种模式分析技术来检测形状、大小和灰度特征，使用户能够快速准确地测量每个特征的特征。独特的自动测量功能还可用于识别可能的缺陷或模式变化，从而为用户提供有关缺陷潜在原因的反馈。APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite还配备了高速成像模块，为用户提供2.5 Gigapixel/秒成像吞吐量。使用此成像模块,用户可以一次从多达10个样本中快速获取图像,最小视场为150 nm。此外,模块能够在不到一秒的时间内成像整个晶片。该工具还为用户提供各种分析工具，如掩模对准和晶体管成像，使用户能够准确识别和分类缺陷。借助其强大的分析功能,SemVision G3 Lite还为用户提供了多种有用的数据,如关键形状、特征大小和灰色级别信息。总体而言，AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3 Lite是一种先进的掩模和晶圆检测资产，具有广泛的特性和功能，使其成为检测高端微电子芯片和其他复杂设备的理想工具。AMAT SemVision G3 Lite具有高度先进的成像功能、强大的分析功能和快速的图像采集速度,是检查任何大小和复杂设备的强大而可靠的工具。