二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9380470 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite是一种检测设备，设计用于快速、准确地分析高端口罩和晶片上的缺陷。该系统采用一套创新的成像、计量和掩模检查工具，能够检测和测量最微小的缺陷。该装置采用多路复用器设计，可同时操作红外和可见显微镜，以提高速度和精度提供出色的分辨率。它与AMAT SEMVision控制器配对，对成像参数进行精确控制，自动检测缺陷。该机还包括一个DLA Group D扫描算法，用于快速、可重复的分析，以及与较旧的软件平台向后兼容。该工具的超高分辨率成像功能允许精确检测表面缺陷和颗粒。它为评估任何现有或新出现的缺陷源奠定了可靠的基础，使掩模制造商能够快速识别问题的原因并相应地加以修复。此外,该资产还包括一套功能强大的掩码检查工具,包括模式识别、边缘检测和轮廓跟踪,以确保最高精度。AMAT SemVision G3 Lite进一步融合了数字低分辨率SEM （DLA Group D）扫描、模式识别和地图删除技术。此组合提供了完整的缺陷图片和晶圆表面的全面图片,能够识别、表征和定位缺陷。此外,该模型设计用于快速设置和实施,并具有直观的软件界面,使用户能够快速轻松地执行其任务。此外，该设备还可与网络连接的晶圆计量系统相连接，以便快速、方便地进行分析。总体而言,APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite系统为用户提供了一种分析、快速和可靠的方法来识别、分析和表征高端晶片和掩码上的缺陷。通过使用先进的成像、计量和掩模检查工具，该单元消除了猜测，提供了无与伦比的精确结果。