二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9072082 待售

AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3掩模和晶片检查设备是一个自动化系统,旨在检查掩模、标线和晶片并检测错误和不合格。该单元提供快速晶片扫描能力，能够有效检测大型晶片上的缺陷。该机基于高速6.25兆像素CMOS相机，安装在带有配套硬件和软件的专有检查头上。它还将高度精确的机动化级与精密加工零件集成到工具中,以便在成像和检查过程中精确定位和移动掩模和晶片。该资产能够检测到尺寸不超过1微米的缺陷,并可以检查直径不超过14英寸的区域。它还能够同时检查多个晶片,并且可以检测掩模或晶片中的表面缺陷和跟踪错误。此外,APPLICED MATERIALS AMAT SemVision G3掩模和晶圆检测模型还能够识别不同类型的缺陷,包括空隙、断线、缺失特征和错位。该设备具有可编程的图像生成和捕获软件，可用于定制图像处理。这包括能够调整检查设置以优化应用程序的结果。该软件还使用户能够分析获得的数据并生成详细的报告，这些报告可用于文档、质量控制和流程改进。AMAT/APPLIED MATERIALS APPLEED MATERIALS SemVision G3 Mask&Wafer Inspection System旨在提供精确准确的检测性能,同时考虑到不同制造工艺和应用的需求。它强大的设计和用户友好的软件使用户能够快速准确地检查和检测缺陷,从而实现高效可靠的高质量生产。