二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261314 待售

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ID: 9261314
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Defect review system, 12" Process: SEMREV Wafer ID reader Backside bar code wafer scribe reader Carrier ID: Tiris compatable RFID Operator access switch: VeritySEM-AUTO 8 Wafer mapping: Through beam mapper VeritySEM-AUTO 6 Optical FOV: Large optical FOV 100x, 20x and 2.5x Tilt function Contact hole profile grade SECS Capable output VeritySEM-SYS2 Wafer stage: Anorad stage Interlocks: ETU Access panel Interface: (2) FOUP (Continuous flow operation) Remote units: Dry and vacuum pumps Signal tower: Red / Yellow / Green / Blue Power supply: HVPS, CDM Does not include dry pumps CE Marked 2006 vintage.
AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一款新一代的掩模和晶圆检测设备,旨在帮助芯片制造商提高工艺产量。它使用了一套先进的机器视觉技术来准确评估每个掩模和晶片的复杂结构和层,从而实现更快、更可靠的过程控制。该系统提供了纳米级缺陷的详细视图,有助于加速和改进产量优化工作。AMAT SemVision G3配备了一系列自动映像和分析功能。它采用高倍光学系统进行详细的模式分析,包括在纳米级进行检查的能力。它捕获并报告了一系列材料上的缺陷,如微空隙、颠簸和划痕,其中包括砷化氙和铁氧体。这使操作员能够快速准确地跟踪和消除错误源。该单元建立在一套全面的硬件、软件和数据管理工具之上。其集成传感器可实现多种检测方法,包括暗场、明场、斜场、离轴和明场辅助高分辨率成像。为了便于分析和报告,该机器与最新的图像处理和模式识别技术集成在一起,包括3D模式检测、对象分类和灵活的自动化模型。应用材料SemVision G3还提供一系列质量控制和统计过程控制服务。这些包括缺陷检测、缺陷掩模检查和颗粒评估。该工具还提供了一系列故障分析工具,为操作员提供数据驱动的见解,从而能够做出明智的决策。此外,SemVision G3提供即时晶圆匹配和晶圆分级服务。这些服务使用实时扫描数据来评估模式、识别异常并将结果与预期性能进行比较。这有助于制造商快速评估和优化其产品的质量。总体而言,AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3提供了一个集成的、功能强大的掩码和晶圆检测资产,可帮助芯片制造商提高工艺产量。其先进的特点,包括模式分析、缺陷检测分析、晶圆匹配分级和故障分析,使其成为提高生产质量的宝贵工具。
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