二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9274013 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一种蒙版和晶片检查设备，提供最高的光学性能和图像质量，允许最精确地放置和对准蒙版和晶片。该系统可用于多种应用，包括缺陷检测、迭加测量和3D轮廓测量。AMAT SemVision G3旨在为半导体行业提供卓越的成像和检查能力。它使用先进的成像技术和自动化算法来提供准确的缺陷检测、迭加测量和3D轮廓测量功能。该单元利用三个独立的成像系统，这些系统结合起来，提供了无与伦比的性能水平。这些系统包括近可见成像机（NIS）、电子束书写工具（EBS）以及晶圆和掩模检查资产组合（WMIS）。NIS提供了一种光学分辨率来表征大视场上纳米大小的特征。它还具有检测和测量非常小的微小缺陷或结构的能力。NIS和EBS系统的组合使得临界对准测量的精度尽可能高。WMIS是晶圆和掩码的组合检测模型，利用先进的成像技术和算法，提供精确的缺陷检测和重迭测量能力。该设备利用二维（2D）视频成像和3D扫描技术,用户可以精确分析和测量晶圆和掩码。APPLICED MATERIALS SemVision G3还具有一系列其他功能，如自动校准和操作、16位分辨率成像、嵌入式Metrology 3D激光共聚焦显微镜（LCM）和集成软件控制的测量和分析系统。SemVision G3是快速、精确的掩模和晶圆检测和表征的理想解决方桉,使半导体专业人员能够提供高质量的产品和服务。它具有广泛的功能以及先进的成像和分析功能,是任何半导体应用的理想选择。