二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9351468 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
ID: 9351468
晶圆大小: 12"
优质的: 2007
Defect review system, 12" 2007 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask and Wafer Inspection Equipment from AMAT is a full automated and integrated system for inspection of mask and wafer.它是任何全面服务的重要组成部分,生产光刻设施。该单元提供1面和2面的检查,允许全掩模和晶圆检查。它的双面检查功能有助于降低总体拥有成本,同时实现掩码和晶圆数据的统一。AMAT SemVision G3使用光学和3D视觉分析对晶圆表面上的图样进行全面分析。它在高和低NA应用模式下提供集成的高性能、高分辨率和探测。该机的关键特性包括1010高精度级和直线电机驱动器、0.9 nm分辨率压电扫描仪、1600 mm视场、810 nm FOV取景选项和背景消除扫描选项。该工具配有自动蒙版和晶圆对准器、高速控制器和高级检查软件包。APPLICED MATERIALS SemVision G3具有较低的误报率,提供了一种测量和识别半导体器件缺陷的有效方法。它支持多种临界缺陷类型,包括颗粒、背面颗粒、接触孔、关线临界尺寸和覆盖层。该资产还包括一个专有例程库,可用于自动检测和修复缺陷。SemVision G3提供了可靠直观的用户体验,使操作员能够快速识别和修复口罩和晶片上的缺陷。它易于安装、配置和操作,使工程师和操作员能够快速了解如何使用模型。该设备设计用于要求最苛刻的半导体生产环境,确保高质量的结果并帮助提供高产性能。AMAT/APPLICED Materials SemVision G3 Mask和APPLICED MATERIALS的晶片检验系统是一种非常可靠、经济高效的口罩和晶片检验解决方桉。它提供了多种关键特性和优势,使其成为半导体制造工艺的理想选择。
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