二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #9401994 待售
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AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G4是一种先进的高科技掩模和晶片检测设备,旨在检测和表征光掩模和晶片上的微缺陷。该检测系统能够检测到6微米分辨率以下的缺陷，可用于各种半导体和微电子应用。G4利用置信度驱动模式匹配算法以及许多复杂的图像增强技术来实现缺陷检测。该设备旨在分析晶片和掩模的正面和背面图像,从而能够快速高效地检测最小缺陷。它具有直观的用户界面,允许用户快速轻松地配置计算机,以检测正面和背面图像中的缺陷并对其进行分类和评分。G4配备了Xeno光源和弧光灯，为检测甚至最小的缺陷创造了最佳光源。它有两个前沿的CCD相机，使用高分辨率的镜头来捕捉面具和晶片的图像。利用强大的图像分析算法，该工具能够检测和表征蒙版和晶片上的微观缺陷。G4包含了一系列亚微米缺陷检测算法，如DRC（Direct Registration of Characters），用于亚微米结构的高效匹配。它还具有像素级缺陷审查算法，允许用户深入研究可疑缺陷并详细查看它们。AMAT SemVision G4是半导体和微电子生产不可或缺的工具，提供了一种快速可靠的方法来检测和表征光掩模和晶片上的缺陷。凭借先进的成像算法、强大的光源和直观的用户界面，G4为掩模和晶圆检测系统设定了标准。
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