二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #9408877 待售

ID: 9408877
优质的: 2010
Defect review system 2010 vintage.
AMAT(应用材料)AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G4是一种高度先进的掩模和晶圆检测设备,旨在在缺陷检测和信号完整性分析方面提供无与伦比的性能。G4采用先进的信号处理和成像技术,以最精确的方式精确分析和检查掩模和晶片。该系统捕获掩码和晶片的破坏性和无损图像,同时捕获掩码和晶片的图像宽度和图像长度数据。AMAT SemVision G4提供面罩和晶片的高分辨率逐行扫描,覆盖范围广泛,从最小到最大的关键特征。它还采用宽带或窄带照明对样品进行光谱成像。该单元可以检测单晶、多晶以及非晶材料/器件。它还提供缺陷密度测量和分类功能。此外,G4先进的在线计量自动化功能使它能够快速扫描、测量和识别与半导体过程相关的缺陷,而无需人工干预。它为用户提供高级成像功能,用于检测和尺寸分析具有小特征的结构,如模具垫和焊料凸点。G4还提供了高级软件工具来启用预测诊断,从而实现快速故障本地化。应用材料SemVision G4提供先进的计算机辅助缺陷识别(CADR)功能。它使用高级算法检测具有可重复精度的缺陷,并可以根据缺陷的形状、大小、颜色、对比度、强度等对其进行分类和/或鉴定。CADR消除了对繁琐的手动缺陷分类的需要,并确定了潜在的关键缺陷。总体而言,SemVision G4是一款功能强大、高效的掩模和晶圆检测机,旨在满足精度、速度和可靠性的最高标准。是故障分析、检测、生产试验和工艺改进的理想工具。
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