二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Semvision G5 + EDX #9145244 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Semvision G5+EDX是一种为半导体制造而设计的掩模和晶圆检测设备。该系统提供了一种可靠、高效的方法，确保制造产品中使用的口罩和晶片质量最高。该单元使用多种探测器和成像技术，快速准确地检查掩模和晶片是否存在缺陷、失真和其他缺陷。AMAT Semvision G5+EDX由掩模检查模块、光学显微镜、电荷耦合器件（CCD）阵列、电子探测器和样品支架组成。掩模检查模块使用高分辨率摄像头和高功率光源来捕获掩模的微观图像。光学显微镜用于目视检查掩模和晶片是否有缺陷和缺陷，而CCD阵列则用于收集掩模的数字图像。电子探测器用于捕获和分析掩模和晶片中的纳米级元素。样品支架设计用于在检查过程中牢固地固定口罩和晶片。APPLIED MATERIALS SEMVISION G5+EDX还利用了多种基于计算机的分析工具和软件，旨在快速准确地评估蒙版和晶片。这包括自动缺陷检查软件，该软件旨在检测和识别口罩和晶片中的缺陷。还包括旨在检查是否遵守既定国际标准的其他软件工具。Semvision G5+EDX提供了速度、精度和经济性的独特组合,使其成为寻求提高其掩模和晶圆检验过程的准确性和效率的半导体制造厂的一个有吸引力的选择。这台机器能够以高达每秒6000帧的速度捕获高分辨率图像，并且能够检测到小至0.15微米的缺陷。此外,该工具可轻松集成到现有生产线中,从而加快了上市速度。