二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5 #293589564 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5
ID: 293589564
优质的: 2010
Defect review system 2010 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G5是一款领先的自动掩模和晶圆检测设备,专为高性能、过程控制和成本效益而设计。该系统的先进成像技术是半导体光刻操作的理想选择,它可以捕获曝光的掩模和成品晶片的高分辨率图像,从而提供详细的可见性和缺陷分类。G5是一个创新的全自动单元,利用功能强大的CPU/GPU单板处理器和先进的图像处理软件来检查掩码和晶片。该机器的高放大倍率、高端Lumenera传输级可提供6英寸和8英寸晶圆尺寸以及2倍Reticle尺寸的自动成像。高性能传感器提供所有缺陷类型的清晰图像,即使是小于1 µm的类型。该工具利用TrueColor、Contrast ImageMasking、Chromatic Defocus等高级分析来检测、测量和分类缺陷。G5的快速启动和最低限度的维护使其成为非常经济的检验资产。一台计算机同时控制掩码和晶片检查功能,模型通过独特的GGI许可证与AMAT/APPLICED MATERIALS晶片跟踪设备完全集成。该单元的高级成像和分析使客户能够制作精确的串联3D晶圆图像,在45 nm节点及以下使用关键尺寸检查(CDI)验证现有条件,检测污染并测量Deltas,而无需离线分析。该系统还可用于初次检查后的缺陷优先排序,以便快速识别和纠正反复出现的缺陷。G5的设计满足了大批量生产中248nm、193nm和157 nm激光器的持续输出和生产率要求。全自动设备可以每小时测量、验证和分析数百万张图像,从而缩短检查时间并提高吞吐量。作为一种集成解决方桉,G5降低了运营成本,同时提高了过程控制和准确性,使客户能够实现其生产目标。使用G5,用户可以从提供的高级分析中受益,从而帮助生产无缺陷且符合指定产品规格的高质量产品。
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