二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5 #9408666 待售

ID: 9408666
优质的: 2011
Defect review system 2011 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G5是一种掩模和晶片联合检测设备,提供精确晶片和掩模缺陷分析和缓解的自动化分析。该系统建立在硬件、软件和硬件集成的基础上,能够通过使用光学和电子成像方法进行准确和精确的缺陷分析。该单元以G5 Opto电子显微镜机为基础,这是一种全场定量光刻工具,可用于测量和量化成像元件的光学性能。此工具使用光学和电子成像,使制造商能够检测、定位、观察和修补晶片和掩模上的缺陷。显微镜工具配备了创新的光学和电子成像技术,能够获得准确和精确的结果。此资产还允许用户构建虚拟掩码,用于提高缺陷分析的准确性和生产率。除了G5 Opto-electronic显微镜模型外,AMAT SemVision G5还包括用于光学性能自动化、全场量化的Optometrics。该工具通过使用统计算法对任何图像的光学性能进行实时、基于度量的评估。验光技术能够高精度、高精度地检测、定位和跟踪缺陷.该设备还包括Wafer Surf,这是一种全场表面缺陷分析和缓解工具,可帮助检测和分析晶圆表面地形中的任何有害变化。Wafer Surf能够识别非打印特征,包括平面化问题、遮罩壁形状畸形和锯齿。APPLICED MATERIALS SemVision G5为完整的光刻缺陷分析和缓解提供了一个多功能的应用程序。它结合了强大而精确的成像技术,使其成为任何努力确保产品最高质量的制造商的宝贵工具。
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