二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293622274 待售

ID: 293622274
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision是一种由AMAT开发的掩模和晶圆检测设备。该系统以专利技术为基础,提供高精度和插槽编程,方便快速运行。面罩和晶片检测仪结合了光刻级红外光学器件和双级点光机,以各种模式提供准确的结果。自动检测算法消除了环境变化,并允许工具以高精度监视模式。软件允许用户选择感兴趣的区域并查看基板上的可疑缺陷。与传统的掩模和晶片检查设备相比,这有助于减少人工检查整个晶片所花费的时间,并提高准确性。此外,两级点光设备可确保正反面罩上小缺陷的准确性,其他类型的检查系统可能看不到这些缺陷。该模型的设计也考虑到了灵活性。可用于开展广泛的检查,包括图像分析、模式识别、粒子检测等等。用户界面直观而简单,允许快速的作业设置和配置。此外,设备还包括一个带有简化作业设置的优化模板的检查库。这使用户更容易自定义系统以满足其特定需求。通过灵活的控制参数,如放大倍率、数值孔径和视场,可以对设备进行广泛的定制。该机器还配备了全自动功绩图形硬件,可在短短几秒钟内识别阵列的特征大小、信噪比和动态对齐方式。最后,该工具采用内部报告生成器,提供自动记录保存和报告。简而言之,AMAT SemVision资产是一种具有可定制性、灵活性和准确性的高级掩码和晶圆检测模型。该设备可实现快速轻松的作业设置,并具有高精度的结果和简单直观的用户界面。由于其强大的功能集和高度可配置的性质,APPLIED MATERIALS SemVision系统非常适合用于口罩和晶片的生产、研究和开发。
还没有评论