二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9179929 待售

ID: 9179929
优质的: 1999
Defect review system, 8" Process: Metro 1999 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision是一种掩模和晶圆检测设备,它结合了最新的图像分析和光学技术,以确保集成电路制造过程中保持高水平的均匀性和保真度。它旨在提供快速、准确的晶圆和掩模处理分析。AMAT SemVision系统使用高级光学、高级处理算法和多光谱成像来检查晶圆和掩码是否均匀性和保真度。它是一种高度敏感的仪器,可以检测线宽、蚀刻深度、均匀性和缺陷因子等结构的最细微的模式和变化。视觉单元是一种综合检测机器,可以快速分析复杂的掩模和晶片中的各种过程。该工具配有高分辨率摄像机、内置高端光学设备、强大而高效的计算能力以及所有封装在集成资产中的先进图像处理技术的组合。它可以收集大量图像的高分辨率图像和立体声数据,以便在短短几秒钟内进行分析。APPLICED MATERIALS SemVision模型采用两步过程设计,使其能够确定和测量掩模和晶片的均匀性和准确性。在分析之前,设备预制了一组初始测试,以全面了解晶圆或掩模的资格。完成此操作后,系统将同时收集所有图像参数的数据,从而开始检查。将这些参数与设计绘图的基线参数进行比较,以识别差异并检查整个视图中的模式是否均匀。使用SemVision进行检查的深度和质量在效率、准确性和结果质量方面无与伦比。整个检查过程自动化,结果稳健可靠。利用AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision,可以检测到和快速诊断出传统检测技术无法检测到的缺陷。因此,这一单元越来越被集成电路制造商和研究中心采用。
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