二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200 #9257412 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200是一种掩模和晶圆检测设备,旨在为半导体器件制造的质量控制提供精确、可靠的分析。该系统能够检测许多类型的污染，如颗粒、污垢、灰尘、碎屑和划痕。为了确保所收集数据的准确性和清晰度，UVision配备了一个光学成像单元，利用光光源，如UV/VIS激光器。这扩大了检测光学和非光学波长污染物的能力。成像能力还将机器可检测到的缺陷范围从顶部表面向下延伸到6微米深度。UVision带有专用软件,使用户能够快速轻松地分析和查看图像。通过这个界面，用户可以研究缺陷图和放大图像，以更仔细地查看被检查的对象。此外,该软件允许自动查看操作和高效的报告存储,从而更容易跟踪和比较检查之间的模式。除了检测工具本身之外，AMAT UVision 200还提供了工业视觉解决方桉，以提高检测过程的效率。这包括自动对准和边缘检测等功能,以确保精确的检查。自动跟踪检查还允许用户测量样品零件的厚度。应用材料UVision 200的可靠性和准确性使其成为半导体器件制造质量控制的理想工具。借助其专门的光学成像资产和直观的软件，UVision为用户提供了检测颗粒、污垢、灰尘和其他污染物的有效方法。此外,模型的视觉解决方桉有助于确保快速、准确地检查对齐的部件。这种特性的结合使得它成为半导体器件制造商的绝佳选择。