二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200S #293749018 待售
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ID: 293749018
优质的: 2007
Brightfield inspection system
DUV Laser: 266 nm
Polarization controller
Sensitive photomultiplier detector
Brightfield
Scattered light
Greyfield
2007 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200S是一种世界领先的、用于半导体晶片自动检测和检验的掩模和晶片检测设备。该系统设计用于经济高效、快速可靠的掩模和晶片检查,可有效监控制造过程中的每一步。AMAT UVision 200S配备了一系列高度先进的技术来识别和检测面膜和晶圆生产线上的缺陷。它具有高分辨率的光学传感器,用于检查动态变化的形状,以确保精度和速度。该单元还利用超高量子效率(UHV)相机在紫外线和可见光中捕捉高对比度图像。它还拥有一个专有的TomoAccurateTM软件套件,提供实时分析和具体检查结果。该软件还可以检测和分类纳米缺陷。APPLICED MATERIALS UVision 200S还有一个多角度散射计(MAS),它精确地指出了基板中的缺陷。因此,这种掩模和晶片检测机能够检测缺陷并提供0.1 μ米分辨率的详细报告。此外,UVision 200S具有机器学习功能,能够快速检测关键缺陷并改进流程。其强大的算法能够通过粒度、数据驱动的分析来评估和监视过程随时间变化。最后,AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200S是一种非常先进的掩模和晶圆检测工具,可提供经济高效的自动检测和缺陷检测。该资产配备了一系列尖端光学传感器、专有软件和机器学习能力,用于精确检测和分析口罩和晶片。它能够检测和分类分辨率为0.1 μ m的纳米缺陷,从而对整个生产过程进行精确监测。
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