二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9182087 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4是一种面膜晶片检测设备，设计用于提供晶片级的高精度缺陷检测。该系统是对传统光学显微镜和其他自动检查技术的补充。AMAT UVision 4具有先进的线性光源（LLS）技术与高灵敏度探测器相结合，为晶圆和掩模检查提供了最高的分辨率和灵敏度。它能够在200毫米晶片上检测到小至0.5微米的缺陷，在300毫米晶片上检测到0.3微米的缺陷，这是最适合检测缺陷的行业。检查单元还采用了许多先进的图像算法，使机器能够检测复杂的缺陷形状，并对其进行快速分类，以提高产量。APPLIED MATERIALS UVision 4的紧凑设计提供了方便设置、操作和维护的高效环境。提供了一个标准平台，该平台配备了一个用于快速卡带到卡带操作的示例机器人，无需人工干预。灵活的暗场成像端口和易于调节的样品级进一步增强了刀具性能,可提供高达15英寸的可变隔间高度。该资产采用了用户友好的界面软件，可实现自动子流程跟踪分析。与传统显微镜技术相比,它还可帮助客户减少安装和维护所需的时间。UVision 4还通过一套包含的软件工具提供了宝贵的过程控制和反馈数据。这些工具能够从晶圆/掩码收集和分析关键缺陷数据，识别晶圆缺陷的原因，并提供数据的统计分析。这种反馈为模型用户提供了必要的基本信息，使他们能够不断改进其流程。AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4设备是在易于设置和维护的节省空间的平台上寻找高性能掩码和晶圆检查的客户的理想选择。