二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9293623 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask和Wafer Inspection设备为缺陷识别和表征提供了业界领先的综合解决方桉。该系统利用先进的高功率紫外线激光检测技术对光掩模和晶片进行高速检测。AMAT UVision 4能够检测和表征5 μ m以下的缺陷,并能够检测群集缺陷,从而实现了最全面、最准确的缺陷识别。开发了APPLICED MATERIALS UVision 4来提供最高效可靠的晶圆和光掩模检测。该设备采用高分辨率激光狭缝扫描和视场（FOV）,使用户能够快速准确地检查5米以下最难检测μ缺陷。此外，UVision 4的先进激光光栅处理允许无与伦比的灵敏度和均匀的覆盖与不断的图像强化。AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4也提供了优异的缺陷表征能力。通过激光特异性检测算法和强大的数字图像处理技术相结合，能够准确地表征晶圆和光掩模上的二维和三维缺陷。由于能够区分缺陷的特征类型、打印密度和表面地形,因此该工具提供了无与伦比的表征精度。除了缺陷表征之外,AMAT UVision 4还提供了一个功能强大的软件套件,旨在管理和显示资产的数据。高级软件功能（如"自动缺陷协调"、"缺陷群集"、"缺陷类型返回"、"自动自适应统计"和"批量地图分割"）使用户能够快速分析检查结果并确定潜在的质量问题来源。APPLICED MATERIALS UVision 4 Mask and Wafer Inspection模型是一种业界领先的解决方桉,用于识别和表征5 μ m及更低的缺陷。利用高分辨率激光检测和强大的数字图像处理,UVision 4能够准确检测晶圆和光掩模上的二维和三维缺陷并对其进行表征。凭借识别缺陷类型、打印密度和表面地形的能力,用户可以确保制造出质量最高的产品。该设备还得到强大的成像软件的支持,该软件旨在帮助用户快速分析检查结果并确定任何质量问题的来源。