二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9375217 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4是为了满足半导体製造业的需求而设计的掩模和晶圆检查设备。此设备提供高速、高分辨率成像和自动模式识别,以便检测掩码和晶片上的缺陷。AMAT UVision 4利用多层厚度（MLT）映射和SEMI-standard粒子分析。MLT映射功能可精确测量掩模或晶片层的横截面厚度和电阻率。然后使用此数据来增强缺陷检测过程。SEMI-standard粒子分析支持图像的采集和分析，以便检测和识别临界掩模和晶圆区域中的外来粒子。这种先进的粒子分析系统提供了对显微镜中可见和不可见的粒子进行分类和区分的能力。该单元配备了高效的基于像素的失真校正机，可以校正整个分辨率范围内的光学像差。这样可以确保在图像中正确表示对象。该工具还提供了自定义将检查图像投影到掩模或晶片上的条件的能力。这使用户能够根据特定标准优化条件。APPLIED MATERIALS UVision 4专为制造环境而设计,提供坚固耐用的镀铬铝外壳。此设计便于快速转换以允许连续生产。该资产与高级图形用户界面集成在一起，便于访问和控制所有检查工具。该界面还提供存储和召回应用程序模板的功能,从而可以轻松设置多个图像和工具。该模型还可以集成到自动应用程序的机器人平台中。这允许用户自动检查多个对象,并对每个对象应用设置。UVision 4是半导体制造商的理想选择，他们需要可靠的检测设备，能够快速准确地检测到掩模和晶圆缺陷。AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4具有先进的功能和坚固的设计,是生产环境的理想选择。