二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #293602517 待售

ID: 293602517
晶圆大小: 12"
优质的: 2013
Brightfield inspection system, 12" Process: Metro 2013 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5是用于半导体生产的先进的掩模和晶圆检测设备。该系统采用独特的先进成像技术,以前所未有的精度和速度识别和评估半导体晶片上的模式。通过提供简单直观的操作和灵活的数据输出,AMAT UVision 5是研究掩模和晶片质量的先进高效工具。APPLICED MATERIALS UVision 5的关键部件是其成像单元。这台机器利用紫外线提供卓越的分辨率和精确度的图像。这种工具能够捕获小至12纳米的图样,并检测半导体晶圆上甚至轻微的异常或粒子污染。借助Zeiss Versa Automated 10 x 5NA配备的光学器件,该资产每秒可吞吐量高达100个视场。UVision 5还拥有先进的数据处理功能。其专有软件将显微镜中的边缘数据和成像模型中的照片数据合并在一起,以更好地识别晶圆中的缺陷、不规则性或其他异常。然后可以将这些数据处理为各种矩阵,如原始数据、测量数据和可视信息。此外,此设备还允许在晶圆上的多层之间进行数据融合,以确定各个边界之间的一致性和一致性。此外,AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5通过其实时控制提供了简化的系统操作。这允许用户在使用设备时方便地调整特征、参数和数据的可视化级别。此外,它还与AMAT HVM(高批量制造)、Atlas软件解决方桉很好地集成在一起。这进一步简化了用户体验,减少了在特定项目的工程任务上所花费的工作量和时间。最后,AMAT UVision 5的数据输出能力也保证了精确的报表生成。这允许机器以各种行业标准格式(如.csv、.txt、.xml、.vdm、.vmd和.mma格式)导出数据,从而允许用户将数据自由移植到另一个工具。总之,APPLIED MATERIALS UVision 5是一种先进的掩码和晶圆检测资产,具有复杂的成像功能和先进的数据处理工具。凭借其简单的操作、多层数据融合和高分辨率的实时控制,该模型是任何半导体生产环境下的一个强大而高效的工具。
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