二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #293665711 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7是为先进半导体器件制造而设计的先进的掩模和晶圆检测设备。它配备了一个紧凑的光学显微镜（COM）系统，提供更高分辨率的晶圆和掩模图样图像，用于精确检查。它旨在准确检查和检查各种材料和应用的微小缺陷和变化。该单元由三个主要组件组成：照明机、光学和图像捕捉工具以及成像和控制资产。照明模型负责在整个晶片或掩模上均匀分布均匀、高强度的紫外线或可见光，这是准确捕获晶片/掩模上的结构和图桉所必需的。光学和图像捕获设备由CCD摄像机和光学器件组成,它们捕获晶片/掩模图样的图像。成像和控制系统允许用户控制图像的曝光、图像的焦点以及图像的分辨率、强度和光谱范围。AMAT UVision 7的设计考虑到高精度和精确度，可以检查尺寸小至0.02微米的设备。它还包含多层对准系统，以准确地用每个设备结构记录检查结果。该单元还配备了自动缺陷检测算法，可以准确检测模式的缺陷、污染物和非功能性区域。此外,APPLIED MATERIALS UVision 7与多种布局格式兼容,并具有用户友好的界面,可轻松操作机器。总体而言,UVision 7是一种功能强大且用途广泛的掩模和晶片检查工具,旨在为几乎任何大小或复杂的半导体器件提供快速而准确的检查。它采用先进的成像和捕获系统、全面的控制系统以及自动缺陷检测和注册系统来构建,以确保准确捕获高质量的图像并执行高度准确的检查。