二手 AMAT / APPLIED MATERIALS WF 736 XS #9159817 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS WF 736 XS
ID: 9159817
晶圆大小: 8"
Wafer particle inspection system, 8".
AMAT WF 736 XSmask&wafer检测设备专为高速生产应用而设计,可高效准确地检测颗粒和缺陷。它是一个单视图或双视图系统,以高通量对各种晶圆尺寸进行实时粒子和缺陷检测。该单元配备了大功率紫外线(UV)和亮场灯机,使用户能够在一次扫描中产生明显更多关于缺陷和颗粒的信息。这种二合一配置为以每小时3500个晶圆的速度进行检查提供了最大的检测灵敏度。该工具具有与嵌入式视觉资产和真空晶圆接口的自动对准过程。这样可以确保精确、一致和可重复的晶片检查。物理检测模型提供了一种高效的芯片到芯片的视图范围功能,使其能够检测沿芯片边缘的颗粒和缺陷密度。该设备为机器人辅助晶圆处理提供了硬件在环功能。这样可以缩短周期时间、提高吞吐量和高精度高效晶圆处理。此外,WF-736还具有图形用户界面(GUI),用于快速、用户友好的设置。它有一个嵌入式过程控制中心,对多个站点进行集中管理。该系统还具有用于监测、显示和归档流程数据的全面数据采集工具。它最多可支撑6个检测轴,可扩展到控制多达16个轴。该设备具有内置的可追踪性功能,能够实时记录/重放来自不同位置的扫描历史记录。这有助于操作员查找缺陷及其位置。它还具有板载配方存储和传输内存,以便于传输客户配方和程序。此外,该机器与Applied Metallization 5020软件兼容,用于缺陷识别和分类。这样可以实现更快、更流畅的流程,并为用户输入提供更快的响应时间。总而言之,APPLIED MATERIALS WF 736 XSmask&wafer检验工具是一种高效、准确的生产应用解决方桉。它为用户提供了出色的粒子和缺陷检测、快速灵活的操作和方便的设置。高速扫描、自动对齐和高级视觉资产的结合使其成为生产环境的可靠选择。
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